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    硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀

    簡要描述:硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
    雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
    自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量

    • 更新時間:2025-02-10
    • 瀏覽次數(shù):3405

    詳細介紹

    LJD-C型硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀

    一、概述:

         LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內(nèi)較高的160MHz.ZJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術(shù)。

    雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

    雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

    雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

    自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

    全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

    DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高*確、幅度的高穩(wěn)定。

    計算機自動修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至*低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

    二、主要技術(shù)特性

    Q 值測量范圍:        2 ~ 1023,量程分檔:30、100﹑300﹑1000,自動換檔或手動換檔

    固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

    工作誤差:≤ 7 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)

    電感測量范圍:        4.5nH ~ 140mH

    電容直接測量范圍:    1 ~ 200pF

    主電容調(diào)節(jié)范圍:      18 ~ 220pF

    主電容調(diào)節(jié)準確度:    100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %

    信號源頻率覆蓋范圍:  100kHz ~ 160MHz

    頻率分段( 虛擬 ):  100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz

    頻率指示誤差:        3 × 10 -5 ± 1 個字

    三、夾具工作特性

    1.平板電容器:

    極片尺寸:         Φ50mm/Φ38mm可選

    極片間距可調(diào)范圍: ≥15mm

    2. 夾具插頭間距:  25mm±0.01mm

    3. 夾具損耗正切值:≤4×10-4 (1MHz)

    4.測微桿分辨率:  0.001mm

    四、配置:

    主機    一臺

    電感    九支

    夾具    一套

    隨機文件一套

    LJD-B型硅橡膠高頻介電常數(shù)測試儀

    一、概述:

    LJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品,自該產(chǎn)品實現(xiàn)銷售后,我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產(chǎn)品改進升級;特別是在軟件上不斷地加以完善,改進了早期產(chǎn)品存在的不足之處,提高了測試精度,并增加新的功能。但近期我公司發(fā)現(xiàn),一些沒有研發(fā)能力的不良公司,盜版了我公司早期產(chǎn)品的軟件,仿制假冒我公司的產(chǎn)品進行銷售,給不了解情況的客戶將帶來損失。因為這些產(chǎn)品的軟件存在不足之處,(如在主電容調(diào)節(jié)至80pf左右時,電容指示值會出現(xiàn)跳變,出現(xiàn)180pf左右的指示值;在介質(zhì)損耗測試時,當材料的損耗較大時,介質(zhì)損耗值會出現(xiàn)錯誤。)但又無法得到升級完善,產(chǎn)品沒有新增的功能。因此請廣大用戶注意識別。

    二、技術(shù)參數(shù):

    信號源頻率范圍:    DDS數(shù)字合成 10KHz-70MHz

    Q測量范圍:        1-1000自動/手動量程

    信號源頻率覆蓋比:  6000:1

    Q分辨率:       4位有效數(shù),分辨率0.1

    信號源頻率精度:  3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)

    Q測量工作誤差:  <5%

    電感測量范圍: 15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH

    調(diào)諧電容:      主電容30-500PF

    電感測量誤差:  <5%

    調(diào)諧電容誤差和分辨率:±1.5P或<1%

    標準測量頻點:  全波段任意頻率下均可測試

    Q合格預(yù)置范圍:  5-1000聲光提示

    諧振點搜索:      自動掃描

    Q量程切換:      自動/手動

    諧振指針:      LCD顯示

    LCD顯示參數(shù): F,L,C,Q,波段等

    三、夾具工作特性

    1.平板電容器:

    極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm   可選

    極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

    2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm

    3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

    4.測微桿分辨率:0.001mm

    四、配置:

    主機一臺

    電感九支

    夾具一套

    隨機文件一套

     

    LJD-A型

    一、概述:

        LJD-A型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀是一種通用的,多用途,多量程的高頻阻抗測量儀器。它可測量高頻電感器,高頻電容器及各種諧振元件的品質(zhì)因數(shù)(Q值)、電感量、電容量、分布電容、分布電感,也可測量高頻電路組件的有效串、并聯(lián)電阻、傳輸線的特征阻抗、電容器的損耗角正切值、電工材料的高頻介質(zhì)損耗、介質(zhì)常數(shù)等等。因而高頻Q表不但廣泛用于高頻電子元件和材料的生產(chǎn)、科研、品質(zhì)管理等部門、也是高頻電子和通信實驗室的常用儀器。它的測試回路采用了優(yōu)化的設(shè)計、優(yōu)質(zhì)的介質(zhì)材料和優(yōu)良的涂覆工藝使殘值減少。其高頻信號源是采用DDS數(shù)字合成、Q值測定和顯示部分運用了微機技術(shù)和智能化管理,數(shù)碼鎖定信號源頻率,諧振回路自動搜索,測試標頻自動設(shè)置技術(shù),使得測試精度更高,使生產(chǎn)線分選測試速度大增。

    二、技術(shù)參數(shù)

    Q值測量:1-999 三位數(shù)顯,自動切換量程,可手動設(shè)置測量量程

    固有誤差:≤5%±滿度值的2%

    工作誤差:≤7%±滿度值的2%

    電感測量:0.1μH-1H 誤差<5%±0.03μH

    測試頻率:10kHz-60MHz 五位數(shù)顯 DDS數(shù)字合成

    具有頻標自動設(shè)置,自動搜索諧振點,Q值合格設(shè)置,聲光指示

    頻率誤差:3×10-5±1個字

    調(diào)諧電容:主電容:40-500PF 誤差<±1%或 1PF

    微調(diào)電容:±3PF 分辨率0.2PF

    三、夾具工作特性 :

    1.平板電容器:

    極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm可選

    極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

    2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm

    3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

    4.測微桿分辨率:0.001mm

    四、配置:

    主機一臺

    電感九支

    夾具一套

    隨機文件一套

    三、夾具工作特性

    1.平板電容器:

    極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm   可選

    極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

    2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm

    3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

    4.測微桿分辨率:0.001mm

    四、配置:

    主機一臺

    電感九支

    夾具一套

    隨機文件一套

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