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    直讀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

    簡要描述:直讀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。

    • 更新時間:2025-02-09
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    詳細介紹

    LJD介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)使用方法 

    直讀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

    一 介電常數(shù)測試方法與步驟

    1. S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

     

    2. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH

    3. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm),樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平整。

    4. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。

    • 再松開兩片極片,把被測樣品夾入平板電容上下極片之間,調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,直到平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變主機上的主調(diào)電容容量(旋轉(zhuǎn)主調(diào)電容旋鈕改變主調(diào)電容電容量),使主機處于諧振點(Q值大值)上。
    • 取出S916測試夾具中的樣品,這時主機又失去諧振(Q值變小),此時調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使主機再回到諧振點(Q值大值)上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4.
    • 計算被測樣品的介電常數(shù):

         Σ=D2 / D4

    直讀介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

    二 介質(zhì)損耗測試方法與步驟

    1. 主機C0值的計算方式:

    • 選一個適當?shù)闹C振電感接到“Lx”的兩端;
    • 將調(diào)諧電容器調(diào)到200P左右,令這個電容是C4
    • 按下儀器面板的頻率搜索鍵,使測試回路諧振,諧振時Q的讀數(shù)為Q4(注:若頻率搜索未能找到z高Q值諧振點,可以通過頻率旋鈕來微調(diào)頻率來達到Q值大值的諧振點;
    • 將測試夾具接在“Cx”兩端,放入材料,上下極片夾緊材料后記住夾具顯示值,然后拿出材料,調(diào)回到夾具的顯示數(shù)值,調(diào)節(jié)主調(diào)電容,使測試電路重新諧振,此時可變電容器值為C3,Q值讀數(shù)為Q3。(注:C3數(shù)值肯定比C4要小)

    機構(gòu)電容的有效電容為:Cz= C4C3

    分布電容為機構(gòu)電容CZ和電感分布電容CL(參考電感的技術(shù)說明)的和

    介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值為

    2. S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。

    3. 在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz 時電感取100uH15MHz時電感取1.5uH

    4. 被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直。

    5. 調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO 清零按鍵,初始值設(shè)置為0。再松開兩片極片,把被測樣品夾入兩片極片之間,調(diào)節(jié)S916測試夾具的測微桿,到的平板電容極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用S916測試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2,改變主機上的主調(diào)電容容量,使主機處于諧振點(Q值大值),然后按一次 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x(C0=Cz+CL電感分布電容)需要手動輸入,記住厚度D2的值,此時顯示數(shù)值為C2和Q2

    6. 取出S916測試夾具中的樣品,(保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變)這時主機又失去諧振(Q值變小),再改變主機上的主調(diào)電容容量,使主機重新處于諧振點(Q值大值)上。

    7. 注意:多次測試同一個材料時,要求保持每次材料厚度的讀數(shù)一致。

    8. 第二次按下 主機上的小數(shù)點(tgδ)鍵,顯示屏上原C2Q2顯示變化為C1Q1,同時顯示介質(zhì)損耗系數(shù)tn =x x x x x ,即完成測試。

    9. 出錯提示,當出現(xiàn)tn =  NO 顯示時,說明測試時出現(xiàn)了差錯,發(fā)生了Q1  Q2C1  C2的錯誤情況。

     

    附錄 一

    顯示數(shù)據(jù)介紹:

     

    C1

    材料拿出后,諧振時測得的電容值

    C2

    材料在夾具中,諧振時測得的電容值

    Q1

    材料拿出后,諧振時測得的Q值

    Q2

    材料在夾具中,諧振時測得的Q值

    CZ

    主機+測試夾具測得的結(jié)構(gòu)電容值

    CL

    標準電感的分布電容值

    C0

    結(jié)構(gòu)電容值+電感的分布電容值

    D2

    材料的厚度

    tn

    介質(zhì)損耗系數(shù)/介質(zhì)損耗正切值

    附錄

    LKI-1電感組

    LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個,凡儀器在進行測試線圈的分布電容量,電容器的電容量,高頻介質(zhì)損耗,高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時,必須用電感組作輔助工具。

    本電感組有較高Q值,能使儀器測量時得到尖銳諧振點,因而增加其測量的準確度,各電感的有關(guān)數(shù)據(jù)如下表:

    電感No

    電感量

    準確度%

    Q值≥

    分布電容約略值

    諧振頻率范圍 MHz

    適合介電常數(shù)測試頻率

    LJD-B

    LJD-C

    1

    0.1μH

    ±0.05μH

    180

    5pF

    20~70

    31~103

    50MHz

    2

    0.5μH

    ±0.05μH

    200

    5pF

    10~37

    14.8~46.6

    15MHz

    3

    2.5μH

    ±5%

    200

    5pF

    4.6~17.4

    6.8~21.4

    10MHz

    4

    10μH

    ±5%

    200

    6pF

    2.3~8.6

    3.4~10.55

    5MHz

    5

    50μH

    ±5%

    180

    6pF

    1~3.75

    1.5~4.55

    1.5MHz

    6

    100μH

    ±5%

    200

    6pF

    0.75~2.64

    1.06~3.20

    1MHz

    7

    1mH

    ±5%

    150

    8pF

    0.23~0.84

    0.34~1.02

    0.5MHz

    8

    5mH

    ±5%

    130

    8pF

    0.1~0.33

    0.148~0.39

    0.25MHz

    9

    10mH

    ±5%

    90

    8pF

    0.072~0.26

    0.107~0.32

    0.1MHz

    10

    15nH

    ±10%

    40

    0

     

    ≥100

    100MHz

     

     

     

     

     

     

     

     

     

    附錄

     

    一  如何測試帶粘性超薄絕緣材料介電常數(shù)

    1 錫箔紙覆膠材料的兩面,上下層錫箔紙能接觸。錫箔紙厚度為DX;

    2 超薄材料需要疊加:疊加方式如下

                                       250μ貼合6層后測試;

    200μ貼合8層后測試;

    175μ貼合9層后測試;

    125μ貼合12層后測試;

    100μ貼合15層后測試;

    75μ貼合20層后測試;

    50μ貼合30層后測試。

    3 計算公式 

      Σ=(D2-2*DX)/D4

    4 質(zhì)損耗系數(shù)測試同理

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